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规范标准

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当前选择： CCS分类 电子元器件与信息技术（L） 微电路（L55/59）
  • 微电路综合（L55）
  • 半导体集成电路（L56）
  • 膜集成电路（L57）
  • 混合集成电路（L58）
  • 微型组件（L59）
  • 标准号
  • 名称
  • 状态
  • 类型
  • 性质
  • 实施日期
  • GB/T 35010.7-2018
    半导体芯片产品 第7部分：数据交换的XML格式
    现行
    国家标准
    推荐性
    2018-08-01
  • GB/T 35010.6-2018
    半导体芯片产品 第6部分：热仿真要求
    现行
    国家标准
    推荐性
    2018-08-01
  • GB/T 35010.5-2018
    半导体芯片产品 第5部分：电学仿真要求
    现行
    国家标准
    推荐性
    2018-08-01
  • GB/T 35010.4-2018
    半导体芯片产品 第4部分：芯片使用者和供应商要求
    现行
    国家标准
    推荐性
    2018-08-01
  • GB/T 35010.3-2018
    半导体芯片产品 第3部分：操作、包装和贮存指南
    现行
    国家标准
    推荐性
    2018-08-01
  • GB/T 35010.2-2018
    半导体芯片产品 第2部分：数据交换格式
    现行
    国家标准
    推荐性
    2018-08-01
  • GB/T 35010.1-2018
    半导体芯片产品 第1部分：采购和使用要求
    现行
    国家标准
    推荐性
    2018-08-01
  • GB/T 35009-2018
    串行NAND型快闪存储器接口规范
    现行
    国家标准
    推荐性
    2018-08-01
  • GB/T 35008-2018
    串行NOR型快闪存储器接口规范
    现行
    国家标准
    推荐性
    2018-08-01
  • GB/T 35007-2018
    半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2018-08-01
  • GB/T 35006-2018
    半导体集成电路 电平转换器测试方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2018-08-01
  • GB/T 35005-2018
    集成电路倒装焊试验方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2018-08-01
  • GB/T 35004-2018
    数字集成电路 输入/输出电气接口模型规范
    现行
    国家标准
    推荐性
    2018-08-01
  • GB/T 35003-2018
    非易失性存储器耐久和数据保持试验方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2018-08-01
  • GB/T 35002-2018
    微波电路 频率源测试方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2018-08-01
  • GB/T 35001-2018
    微波电路 噪声源测试方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2018-08-01
  • GB/T 14028-2018
    半导体集成电路 模拟开关测试方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2018-08-01
  • GB/T 4377-2018
    半导体集成电路 电压调整器测试方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2018-08-01
  • GB/T 34900-2017
    微机电系统（MEMS）技术 基于光学干涉的MEMS微结构残余应变测量方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2018-05-01
  • GB/T 34899-2017
    微机电系统（MEMS）技术 基于拉曼光谱法的微结构表面应力测试方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2018-05-01
共 242 条