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规范标准

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当前选择： CCS分类 电子元器件与信息技术（L） 半导体分立器件（L40/49）
  • 半导体分立器件综合（L40）
  • 半导体二极管（L41）
  • 半导体三极管（L42）
  • 半导体整流器件（L43）
  • 场效应器件（L44）
  • 微波、毫米波二、三极管（L45）
  • 温差电致冷组件与器件（L46）
  • 其他（L47）
  • 标准号
  • 名称
  • 状态
  • 类型
  • 性质
  • 实施日期
  • GB/T 14863-1993
    用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法
    废止
    国家标准
    推荐性
    1994-10-01
  • TB/T 2437-1993
    机车半导体变流装置技术条件
    被代替
    暂无
    推荐性
    1994-07-01
  • SJ 2698-1986
    电子器件详细规范 2CN4C型硅快开关整流二极管
    被代替
    暂无
    强制性
    1993-07-01
  • GB/T 13811-1992
    超导材料术语
    被代替
    暂无
    推荐性
    1993-06-01
  • SJ 1231-1977
    锗开关二极管反向恢复时间测试方法
    被代替
    暂无
    强制性
    1992-05-20
  • GB/T 13066-1991
    单结晶体管空白详细规范
    废止
    国家标准
    推荐性
    1992-03-01
  • GB/T 13063-1991
    电流调整和电流基准二极管空白详细规范
    废止
    国家标准
    推荐性
    1992-03-01
  • GB 12560-1990
    半导体器件 分立器件分规范 (可供认证用)
    被代替
    暂无
    强制性
    1991-10-01
  • GB/T 12561-1990
    发光二极管空白详细规范(可供认证用)
    被代替
    暂无
    推荐性
    1991-10-01
  • GB/T 12562-1990
    PIN 二极管空白详细规范 (可供认证用)
    废止
    国家标准
    推荐性
    1991-10-01
  • ZB/Z Y 349-1985
    NPN硅平面高频中小功率三极管可靠性筛选工艺规范
    被代替
    暂无
    指导性技术文件
    1991-01-01
  • GB/T 12300-1990
    功率晶体管安全工作区测试方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    1990-08-01
  • GB 12300-1990
    功率晶体管安全工作区测试方法
    现行
    暂无
    强制性
    1990-08-01
  • GB 11499-1989
    半导体分立器件文字符号
    被代替
    暂无
    强制性
    1990-04-01
  • GB/T 249-1989
    半导体分立器件型号命名方法
    废止
    国家标准
    推荐性
    1990-04-01
  • GB 11492-1989
    FD08、FD12和FD15型间隙放电器技术条件
    被代替
    暂无
    强制性
    1990-03-01
  • GB/T 4589.1-1989
    半导体器件 分立器件和集成电路总规范 (可供认证用)
    废止
    国家标准
    推荐性
    1990-01-01
  • GB/T 9436-1988
    液晶显示器件参数符号
    废止
    国家标准
    推荐性
    1989-02-01
  • GB/T 7581-1987
    半导体分立器件外形尺寸
    现行
    国家标准
    推荐性
    1987-11-01
  • GB/T 6570-1986
    微波二极管测试方法
    废止
    国家标准
    推荐性
    1987-07-01
共 221 条