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  • 标准号
  • 名称
  • 状态
  • 类型
  • 性质
  • 实施日期
  • GB/T 13387-2009
    硅及其它电子材料晶片参考面长度测量方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 12963-2009
    硅多晶
    废止
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 11072-2009
    锑化铟多晶、单晶及切割片
    现行
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 10118-2009
    高纯镓
    现行
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 10117-2009
    高纯锑
    现行
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 6620-2009
    硅片翘曲度非接触式测试方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 6624-2009
    硅抛光片表面质量目测检验方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 6619-2009
    硅片弯曲度测试方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 6618-2009
    硅片厚度和总厚度变化测试方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 6617-2009
    硅片电阻率测定 扩展电阻探针法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 6616-2009
    半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法 非接触涡流法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 6150.9-2009
    钨精矿化学分析方法 铜量的测定 火焰原子吸收光谱法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 6150.8-2009
    钨精矿化学分析方法 钼量的测定 硫氰酸盐分光光度法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 6150.3-2009
    钨精矿化学分析方法 磷量的测定 磷钼黄分光光度法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 6150.16-2009
    钨精矿化学分析方法 铁量的测定 磺基水杨酸分光光度法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 5238-2009
    锗单晶和锗单晶片
    废止
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 4058-2009
    硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 4061-2009
    硅多晶断面夹层化学腐蚀检验方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 1558-2009
    硅中代位碳原子含量 红外吸收测量方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 1555-2009
    半导体单晶晶向测定方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
共 11263 条