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规范标准

Standard Resource
  • 标准号
  • 名称
  • 状态
  • 类型
  • 性质
  • 实施日期
  • GB 24511-2009
    承压设备用不锈钢钢板及钢带
    被代替
    暂无
    强制性
    2010-06-01
  • GB 24510-2009
    低温压力容器用9％Ni钢板
    被代替
    暂无
    强制性
    2010-06-01
  • GB/T 24491-2009
    多壁碳纳米管
    现行
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 24490-2009
    多壁碳纳米管纯度的测量方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 24487-2009
    氧化铝
    现行
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 24485-2009
    碳化铌粉
    现行
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 24484-2009
    钼铁试样的采取和制备方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 24483-2009
    铝土矿石
    现行
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 24482-2009
    焙烧钼精矿
    现行
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 24481-2009
    3C产品用镁合金薄板
    现行
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 17731-2009
    镁合金牺牲阳极
    废止
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 14264-2009
    半导体材料术语
    现行
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 14146-2009
    硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容-电压法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 14144-2009
    硅晶体中间隙氧含量径向变化测量方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 14141-2009
    硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 14140-2009
    硅片直径测量方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 14139-2009
    硅外延片
    废止
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 13388-2009
    硅片参考面结晶学取向X射线测试方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 13387-2009
    硅及其它电子材料晶片参考面长度测量方法
    现行
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
  • GB/T 12963-2009
    硅多晶
    废止
    国家标准
    推荐性
    2010-06-01
共 315208 条